BDU:2026-00199
Уязвимость лазерного датчика SICK DL100, связанная с использованием обратимой односторонней хэш-функции, позволяющая нарушителю оказать влияние на целостность устройства
📄 Описание
Уязвимость лазерного датчика SICK DL100 связана с использованием обратимой односторонней хэш-функции. Эксплуатация уязвимости может позволить нарушителю, действующему удаленно, оказать влияние на целостность устройства путём подбора пароля
🖥️ Уязвимое ПО
SICK AG
Наименование ПО: SICK DL100
Версия ПО: - (SICK DL100)
Тип ПО: Микропрограммный код
ОС / платформа: —
⚙️ Технические сведения
Тип ошибки
Обратимая односторонняя хэш-функция (CWE-328)
Класс уязвимости
Уязвимость кода
Дата выявления
14.03.2025
Способ эксплуатации
Нарушение аутентификации
Способ устранения
Организационные меры
Статус уязвимости
Подтверждена производителем
Наличие эксплойта
Данные уточняются
Устранение
Уязвимость устранена
📊 CVSS
CVSS 2.0
AV:N/AC:L/Au:N/C:C/I:C/A:C
CVSS 3.0
AV:N/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H
⚠️ Уровень опасности
Критический уровень опасности (базовая оценка CVSS 2.0 составляет 10)
Критический уровень опасности (базовая оценка CVSS 3.1 составляет 9,8)
🔗 Источники и меры
🔗 https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2025-27595 🔗 https://github.security.telekom.com/2025/03/multip... 🔗 https://www.sick.com/.well-known/csaf/white/2025/s...
🏷️ Идентификаторы
CVE-2025-27595
📅 Даты
Дата публикации
09.01.2026
Последнее обновление
09.01.2026
← Назад к списку